Natalia Wolska*1,2

Janusz Jaglarz*2

Janusz Szewczenko*3

*Corresponding author: nwolska@elkomtrade.eu
1 Elkom Trade S.A., ul. Targowa 21, 27-400 Ostrowiec Świętokrzyski, Poland

2 Cracow University of Technology, Faculty of Mechanics M2, Al. Jana Pawła II 37, 31-864 Cracow, Poland
3Department of Biomaterials and Medical Devices Engineering, Faculty of Biomedical Engineering, Silesian University of Technology, ul. Konarskiego 18a, 44-100 Gliwice, Poland

Niestandardowe metody optyczne w badaniach powierzchni elektrochemicznie spasywowanego stopu Ti6Al7Nb.

Celem pracy jest przedstawienie możliwości zastosowania metod optycznychdo wyznaczenia parametrów topograficznych powierzchni stopu Ti przed i po procesie pasywacji, jak również określenie wpływu wstępnych obróbek modyfikujących powierzchnie stopu na grubość tworzonych warstw pasywnych. Zastosowana w niniejszej pracy metodyka pomiarowa, wykorzystująca klasyczne i niestandardowe techniki badań optycznych, pozwoliła na wyznaczenie grubości warstw, chropowatość, długość autokorelacyjną i inne parametry statystyczne opisujące topografię powierzchni. Zaletą przedstawionychniestandardowych technik jest ich nie-inwazyjność i bezkontaktowość.

 

Non-standard optical techniques used in the studies of electrochemically passivated Ti6Al7Nb alloy.

The aim of this work is presentation of optical techniques applied for the measurements of topographic parameters of Tialloy before and after itspassivation, as well as determination of the influence of pre-treatment methods on the thickness of passive films. The applied methodology is non destructive and it includes standard and non-standard optical techniques to determine the thickness, roughness, autocorrelation length and other statistic parameters of film. Advantage of presented non-standard techniques is their non-destructive and non-invasive character.

...czytaj dalej Niestandardowe metody optyczne w badaniach powierzchni elektrochemicznie spasywowanego stopu Ti6Al7Nb.

1

Konstanty Marszałek1, Natalia Wolska2 Janusz Jaglarz2

2AGH University of Science and Technology, Al. Mickiewicza 30, 30-059 Cracow

Cracow University of Technology, Faculty of Mechanics M2, Al. Jana Pawła I37,31-864 Cracow, Poland

Abstract:

The work presents an employment of two scanning optical techniques i.e. optical profilometry (OP) and angle resolved scattering (ARS) method. The first measures the reflected light from a film scanned upon the surface, while the seconds takes light intensity upon the angle of scattered radiation. The ARS and OP studies, being complementary to the atomic force microscopy (AFM) allow to get information about  surface topography.  Scattered radiation measured by ARS and  OP is a function of heights and slopes of microfacets. The analysis of images allows to determine the most important statistic surface parameters, like roughness, height distribution and autocorrelation length, in long spatial wavelength range by the determination of power spectral density (PSD) function. The fast Fourier transform  (FFT) of ARS and OP images allow to find the distribution of surface features in the inverse space, such as periodicity and  anisotropy. In this paper  the results obtained for  porous SiO2,  SiO2-TiO2, blends, TiN and polymer thin films  have been presented. The paper demonstrates the usefulness of the ARS and optical profilometry for the surface and volume thin film inspection.

PACS Index: 78.35+c, 78.68+m, 78.66.Jg

...czytaj dalej Angle resolved scattering combined with optical profilometry as tools in thin films and surface survey